更新時間：2024-08-28
LD-SW6401915-40-G高性能短波紅外相機在1.1μm-1.9μm波段具有高性能、探測范圍寬、操作簡單等特點。該產品分辨率為640x512，全畫幅最高幀率可達50Hz，可同時輸出數字圖像和模擬圖像。采用GigE接口，配套專用顯控軟件，便于用戶使用，并提供相應SDK，支持用戶二次開發(fā)。采用可更換式鏡頭接口，可輕易與定制設備或光譜儀整合兼容。
LD-SW6401915-40-G高性能短波紅外相機在1.1μm-1.9μm波段具有高性能、探測范圍寬、操作簡單等特點。該產品分辨率為640x512，全畫幅最高幀率可達50Hz，可同時輸出數字圖像和模擬圖像。采用GigE接口，配套專用顯控軟件，便于用戶使用，并提供相應SDK，支持用戶二次開發(fā)。采用可更換式鏡頭接口，可輕易與定制設備或光譜儀整合兼容。機芯采用二級熱電制冷芯片，靈活的溫度控制器根據現場溫度進行調整，同時采用可靠的熱控設計，使得焦平面溫度低至-40℃，從而降低暗電流并提升圖像質量。具備任意位置開窗功能，可根據要求在窗口模式下對幀頻進行提升。
產品特點 | 應用領域 |
①高靈敏度InGaAs焦平面探測器 | ①低光成像 |
②640x512像素分辨率、15μm像元尺寸 | ②醫(yī)療、科學成像 |
③光譜響應范圍1.1μm~1.9μm | ③高光譜成像 |
④探測器制冷自動/手動控制 | ④激光光斑跟蹤成像 |
⑤自動/手動增益控制 | ⑤高溫熱成像 |
⑥板載非均勻性校正 | ⑥搜救遙感 |
⑦對比度可調節(jié) | ⑦材料識別 |
⑧數字、模擬視頻同步輸出 | ⑧垃圾分揀 |
⑨可集成板載跟蹤功能 | ⑨半導體檢測 |
技術指標
探測器 | |
探測器類型 | 銦鎵砷FPA |
光譜響應 | 1.1μm ~ 1.9μm |
分辨率 | 640 x 512 |
像元間距 | 15μm |
有效面積 | 9.6mm x 7.68mm |
量子效率 | >80%@（1.0μm-1.6μm） |
有效像元 | ＞99% |
制冷方式 | TE2 |
制冷溫度 | -40℃ |
圖像 | |
幀率 | 50Hz |
窗口模式 | 支持任意位置開窗 |
曝光方式 | 全局快門 |
曝光時間 | 1μs—1/幀頻 |
數字輸出格式 | 8/14bit GigE |
模擬輸出格式 | PAL/NTSC |
板載圖像處理 | 自動/手動曝光；自動/手動增益；非均勻性校正；盲元校正 |
圖像功能
| 幀頻選擇、同步方式選擇、對比度/亮度調節(jié)（手動）、增強、測試圖像、加載十字線、設置信息保存 |
接口 | |
電氣接口 | HR10 |
數字接口 | RJ45@GigE |
模擬接口 | SMA |
外部觸發(fā) | TTL/LVDS |
光學接口 | C |
三腳架接口 | 4×M3/1/4″-20 |
供電 | |
電源輸入 | 24V DC |
功耗 | ＜10W TEC off |
環(huán)境適應性 | |
工作溫度 | -40℃ ~ +55℃ |
存儲溫度 | -50℃ ~ +65℃ |
物理特性 | |
重量 | ≤1050g（不含鏡頭） |
尺寸（L x W x H） | ≤90mm x 90mm x 87mm |
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